真正的变革者 70D和Dual Pixel CMOS AF

·细说Dual Pixel CMOS AF技术——相位对焦和反差对焦

　　Dual Pixel CMOS AF（以下简称DP自动对焦）是EOS 70D亮点中的亮点。7月2日EOS 70D发布当天，撞针曾经发过一篇《草评Dual Pixel CMOS AF》的简单分析。这部分过于偏“理科”，不太感兴趣的摄友可以跳过去直接阅读第三部分。

　　数码相机的自动对焦技术主要是相位对焦和反差对焦两种。相位对焦工作原理是检测镜头成像会聚光线中的某两束光线的交汇情况，指导光束会聚到像平面上。作为三维对焦方式，相位对焦能检测出物体脱焦的方向和距离，可以控制镜头一步对焦到位，理论上更快，也更容易实现对运动物体的伺服对焦。

　　反差对焦是二维方式，是电子取景特有的对焦方式，系统根据镜头对焦时成像传感器感知的画面变化，寻找成像最清晰（反差最大）的合焦位置。反差对焦不需要专用对焦组件，结构简单，成本低廉；以最终成像为检测对象，更为准确。但是反差对焦需要不断比较数字成像，错过合焦点才知道回去好好珍惜，镜头无法一步到位，所以“理论上”较慢；无法判断物体运动方向和速度，连续追踪对焦困难。

　　传统相位对焦系统大多采用透镜分离相位检测法，相机用副反光板将成像光束反射到独立 的对焦组件，对焦组件的分离透镜将来自镜头两个部分的两束光线分别会聚在两个CCD线阵上，CCD线阵就是测量成像光束会聚位置的尺子。透镜分离相位检测 系统使用独立的透镜和CCD线列，信号敏感度高，数据处理简单，高效可靠，弱光和长焦性能优秀，但体积庞大，结构复杂、成本高。此外受到副反光板结构尺寸 限制，对焦区域有限。透镜分离相位检测系统主要适用于反光镜光学取景，Sony也将其应用到了电子取景的SLT半透镜数码相机上，但在其电子取景时半透镜 会分走一部分光线，成像效率轻微的损失。总的来说，透镜分离相位检测系统不适于电子取景。